特許
J-GLOBAL ID：200903099859277251
磁気質検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 高久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-331845
公開番号（公開出願番号）：特開平6-180305
出願日： 1992年12月11日
公開日（公表日）： 1994年06月28日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、容易に磁性体の磁気質および磁気パターンを検出することを目的とする。【発明の構成】 本発明では、磁気センサに検出しようとする磁性体の磁気質に応じて設定されたバイアス磁界を印加しておき、目的とする磁性体が通過するときには、磁気センサからの出力が出ないようにすることにより、所望の磁気質の検出を行うようにした装置において、飽和磁界の着磁用の磁石を独立させることにより、磁気パターンの検知に最適な磁界を別途与えるようにしている。
請求項（抜粋）：
磁束分布の変化を測定する磁気センサと、前記磁気センサよりも上流側に配設されかつ、検出しようとする磁性体に所定のバイアス磁界を印加する第1の磁石と、前記第1の磁石の近傍に配設され、磁気パターンを検出する磁気パターン検出手段と、前記磁気センサの近傍に配設され、第1の磁石と反対極性であって検出しようとする磁性体の保磁力に等しい値の磁界を印加する第2の磁石と前記磁気パターン検出手段よりも上流側に配設されかつ、検出しようとする磁性体にその保磁力よりも絶対値の大きな飽和磁界を印加する第3の磁石と、を具備したことを特徴とする磁気質検出装置。
IPC (4件)：
G01N 27/72
, G01R 33/06
, G01R 33/12
, G07D 7/00
