特許
J-GLOBAL ID：200903099897562385
質量分析法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-099645
公開番号（公開出願番号）：特開平6-260135
出願日： 1993年04月26日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：
【要約】【目的】質量分析時の解像度を向上させる。【構成】親イオンを選択する第一四極子Q1と、ターゲットガスを含有し、衝突セルを形成する第二四極子Q2と、Q2で発生した娘イオンの質量スペクトルを作製する分析用第三四極子Q3で構成されたタンデム型質量分析計の解像度を向上させる方法において、Q2内のターゲットガスのターゲット厚みを少なくとも1.32 x 1015 cm-2 に保持し、好ましくは、少なくとも3.30x 1015 cm-2 に保持し、Q2とQ3間のDCオフセット電圧を低く、つまり、ゼロに保持する。これにより、Q3の解像度が向上する。従った、Q3は少なくとも単位解像度で動作し、1/2または1/3amuの解像度で動作する場合もある。この結果、電荷が1個、2個、3個の娘イオンの同位元素を分析できる。
請求項（抜粋）：
ターゲットガスを含有する衝突セル内に親イオンを誘導して当該衝突セル内の前記ターゲットガスに衝突させて親イオンから娘イオンを生成させ、さらに、前記娘イオンを分析用質量分析計に注入して娘イオンの質量スペクトルを作成して前記娘イオンを分析するものであり、前記衝突セルと前記分析用質量分析計との間には直流回路が配設されている質量分析方法であって、前記衝突セル内での前記ターゲットガスのターゲットの厚みを少なくとも略1.32x 1015cm-2 に維持する段階と、前記質量スペクトルの少なくとも実質部分が生成される期間は前記DC回路の端子間DC電圧を略一定に維持する段階と、前記質量スペクトルの前記実質部分の分析期間中は少なくとも1m/z単位に等しい解像度で前記分析用質量分析計を動作させる段階と、少なくとも前記実質的部分については解像度が少なくとも1m/zの前記質量スペクトルを生成する段階を備えたことを特徴とする質量分析方法。
IPC (2件)：
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