特許
J-GLOBAL ID：200903099907814663
寿命管理方式
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
笹岡 茂 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-333464
公開番号（公開出願番号）：特開平6-161913
出願日： 1992年11月19日
公開日（公表日）： 1994年06月10日
要約：
【要約】【目的】 I/O装置の寿命管理を定量的に行うことにより、正確な予防保守を可能とすると共に、修理・解体後もI/O装置を有効に再利用可能とする。【構成】 CRT31内に不揮発性メモリ41を設け、CRT31を制御する制御部1には、CPU11と、不揮発性メモリ41のメモリ制御部42と、例えばCRT31の一定通電時間を計測するとメモリ制御部42に出力を出す計測部43を設ける。メモリ制御部42は、計測部43からの出力を受けると、不揮発性メモリ41に格納されている総通電時間を読み出し、該総通電時間に一定通電時間を加算して総通電時間を更新して、この更新値を不揮発性メモリ41に書き込む。CPU11は、メモリ制御部42を介して不揮発性メモリ41から定期的に総通電時間を読み取り、該総通電時間と予め定義された限界値とを比較することにより、I/O装置の寿命を判定することができる。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つのI/O装置と、処理装置を備え前記I/O装置を制御する制御部からなるデータ処理システムにおけるI/O装置の寿命管理方式であって、前記I/O装置に寿命管理データを格納する不揮発性メモリを設け、前記制御部に、前記I/O装置に関する寿命データを計測する計測部と、前記不揮発性メモリを制御するメモリ制御部を設け、前記メモリ制御部は、前記計測部から寿命データが出力されたとき前記不揮発性メモリから寿命管理データを読み出し、該寿命管理データを前記寿命データにより更新し、更新した寿命管理データを前記不揮発性メモリに書き込むよう構成したことを特徴とする寿命管理方式。
IPC (2件)：
G06F 13/00 301
, G06F 11/34
