特許
J-GLOBAL ID：200903099916315408
テスト設計装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-142857
公開番号（公開出願番号）：特開平5-150009
出願日： 1992年06月03日
公開日（公表日）： 1993年06月18日
要約：
【要約】【目的】 IC設計時に作成されるICの動作仕様を入力データとして、テスタによるICのテストのための設計を行なう。【構成】 テスタリソース配分処理部109では、テスタ仕様データベース104に登録された各データベースを用いて、動作サイクル単位でのICの動作仕様の定義、該動作仕様のテスト周期毎の分割、信号の観測位置の決定、テスタリソースへの設定値の計算が行なわれ、テスタの仕様を考慮してテスタリソースが配分される。次に、テストパターン変換部115では、定義されたICの動作サイクルを識別するための条件が求められ、この条件によってシミュレーション結果格納用メモリ122のシミュレーション結果から動作サイクルが識別され、シミュレーション結果が、テスタリソースの配分結果を考慮して、テストパターンに変換され、テストパターン格納用メモリ120に格納される。
請求項（抜粋）：
信号の変化であるイベントを表わすイベントシンボルのイベントシンボルデータベースと、ICの検査に使用するテスタの波形モードと信号動作との関係を示す波形モード動作データベースと、波形モードと該波形モードの動作タイミングを規定するタイミングジェネレータとの関係を示すタイミングジェネレータ配分ルールデータベースと、該テスタのリソースを示すテスタリソースデータベースとからなり、テスタの仕様を記述したテスタ仕様データベースと、該イベントシンボルを用い、動作サイクル毎に該被検査ICの動作仕様を信号の変化として定義する第1の手段と、定義された該被検査ICの動作仕様を所定の周期で区分する第2の手段と、該周期で区分された該被検査ICの動作仕様での信号の電気的な状態の観測位置を定義する第3の手段と、該第1,第3の手段で設定された該イベントシンボル及び該観測位置に対してテスタリソースの設定位置を決定する第4の手段と、前記テスタの仕様に関する情報を参照して該テストによる該被検査ICのテスト設計を行なう第5の手段とを備えた特徴とするテスト設計装置。
IPC (2件)：
G01R 31/28
, G06F 15/60 370
