特許

J-GLOBAL ID：200903099922857751

微粒子計測方法およびそのための装置

発明者： 三浦 康弘 ,  塩見 豊 ,  森川 正男 ,  森崎 昭
出願人/特許権者： 住友化学工業株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-109372
公開番号（公開出願番号）：特開平6-323982
出願日： 1993年05月11日
公開日（公表日）： 1994年11月25日
要約：

【要約】【目的】 液中微粒子と気泡とを弁別して液中微粒子のみを計数する微粒子計測方法およびそのための装置を提供する。【構成】 被計測液をフローセル14に一定流量で流し、レーザビームBを照射する。レーザビーム照射領域Bareaを粒子および気泡が通過することにより散乱光が生じ、この散乱光は光電変換器17でパルス信号に変換される。このパルス信号数は信号処理装置18内のトータルカウンタ51で計数される。また、入力パルス信号はLPF53にも入力され、100μs以上のパルス信号のみが選択されて気泡カウンタ54へ出力される。気泡カウンタ54はこのパルス信号を計数する。減算器52は、トータルカウンタ51の計数値から気泡カウンタ54の計数値を減算し、この減算結果を粒子カウンタ55へ出力する。

請求項（抜粋）：

一定流速で流動する微粒子を含む液体にレーザビームを照射し、前記液体からの散乱光をパルス信号に変換し、このパルス信号に基づいて前記液体中の微粒子を計測する微粒子計測方法において、前記パルス信号のうち、パルス幅が所定時間以上のものは前記液体中の気泡で散乱した光に対応するものとし、パルス幅がこれよりも短いものは前記液体中の微粒子で散乱した光に対応するものとし、パルス幅が所定時間以上のものを前記パルス信号から除外することを特徴とする微粒子計測方法。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G06M 11/00