特許

J-GLOBAL ID：200903099958213095

X線平面検出器、X線画像診断装置、及びX線画像補正方法

発明者： 高橋 章仁 ,  本田 道隆
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-265054
公開番号（公開出願番号）：特開2003-204955
出願日： 2002年09月11日
公開日（公表日）： 2003年07月22日
要約：

【要約】【課題】 横引きノイズの補正精度を向上し、従来よりもノイズの少ない、より高画質なX線診断画像を提供可能とする。【解決手段】 マトリクス状に配置された複数の画素を有してなるX線平面検出器において収集されたX線画像の補正方法において、前記X線画像の列方向に高周波成分を除去する第1のフィルタを施し、この第1のフィルタが施された画像を前記X線画像から減じ、この減じて得られた画像の行方向に高周波成分を除去する第2のフィルタを施し、この第2のフィルタが施された画像を前記X線画像から減じることを特徴とするX線画像補正方法。

請求項（抜粋）：

マトリクス状に配置された複数の画素と、前記画素における電荷を読み出すことによって得られた第1の画像に対して列方向の高周波成分を除去する第1のフィルタ手段と、前記第1の画像から前記第1のフィルタ手段により得られた画像を減じる第1の減算手段と、この第1の減算手段により得られた減算画像に対して行方向の高周波成分を除去する第2のフィルタ手段と、前記第1の画像から前記第2のフィルタ手段により得られた画像を減じる第2の減算手段とを具備することを特徴とするX線平面検出器。

IPC (8件)：

A61B 6/00 ,  A61B 6/00 300 ,  G01T 1/17 ,  G06T 1/00 290 ,  G06T 5/00 300 ,  G06T 5/20 ,  H01L 27/14 ,  H04N 1/409

FI (8件)：

A61B 6/00 300 S ,  G01T 1/17 G ,  G06T 1/00 290 A ,  G06T 5/00 300 ,  G06T 5/20 A ,  A61B 6/00 350 Z ,  H04N 1/40 101 C ,  H01L 27/14 K

Fターム (34件)：

2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088JJ05 ,  2G088LL11 ,  4C093AA16 ,  4C093CA06 ,  4C093CA13 ,  4C093EB13 ,  4C093FC17 ,  4C093FC18 ,  4C093FC19 ,  4C093FF03 ,  4M118AA02 ,  4M118AA10 ,  4M118AB01 ,  4M118BA14 ,  4M118CA14 ,  4M118CB11 ,  4M118FA06 ,  4M118FA33 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057BA11 ,  5B057CE02 ,  5B057CE06 ,  5B057CH01 ,  5B057CH09 ,  5C077LL19 ,  5C077MM01 ,  5C077PP01 ,  5C077PP12 ,  5C077PQ12 ,  5C077PQ18 ,  5C077TT10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-161494   出願人：ピッカーインターナショナルインコーポレイテッド