特許

J-GLOBAL ID：200903099987904129

吸光光度計

発明者： 安中 敏男 ,  渡邊 冬樹 ,  安永 和敏 ,  藤田 守 ,  山田 泰 ,  大科 千鶴子
出願人/特許権者： 株式会社トキメック ,  大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 香
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-329607
公開番号（公開出願番号）：特開平11-142338
出願日： 1997年11月13日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：

【要約】【課題】 試片の部分的な変色を簡便に精度良く測定する。【解決手段】試片1の測定部位に臨む発光手段22と、その変調光の反射光または透過光を受ける光電検出手段23と、この光電検出手段23にて検出した受光量を保持する記憶手段9cと、この記憶手段9cの保持する受光量Bと光電検出手段23にて新たに検出した受光量Aとに基づいて吸光度等を求める演算手段9dとを備える。変調によって外乱光の影響を絶つとともに、試片1を測定部位12におくだけで下地で補正した測定値が得られる。

請求項（抜粋）：

試片の測光部位に臨む発光手段と、その変調光の反射光または透過光を受ける光電検出手段と、この光電検出手段にて検出した受光量を保持する記憶手段と、この記憶手段の保持する受光量と前記光電検出手段にて検出した受光量とに基づいて吸光度等を求める演算手段とを備えたことを特徴とする吸光光度計。

IPC (3件)：

G01N 21/78 ,  G01N 21/27 ,  G01N 33/52

FI (3件)：

G01N 21/78 A ,  G01N 21/27 B ,  G01N 33/52 B