特許

J-GLOBAL ID：200903099996541250

表面テクスチャの測定方法

発明者： パルムクイスト, フレデリック ,  ロゼン, ベニト-イェラン ,  シィヴォラ, マッティ
出願人/特許権者： テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル)
代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-500187
公開番号（公開出願番号）：特表2003-500677
出願日： 2000年05月11日
公開日（公表日）： 2003年01月07日
要約：

【要約】断面パラメータの最大高さ(Rz)と断面平均波長パラメータ(RSm)の特定定量化による表面テクスチャの測定方法。

請求項（抜粋）：

表面テクスチャの特定定量化が形状パラメータの最大高さ(Rz)と形状平均波長パラメータ(RSm)の組合せによって実現されることを特徴とする表面テクスチャの測定方法。

IPC (2件)：

G01B 5/28 102 ,  G01N 21/57

FI (2件)：

G01B 5/28 102 ,  G01N 21/57

Fターム (11件)：

2F062AA66 ,  2F062CC27 ,  2F062EE01 ,  2F062JJ04 ,  2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059CC03 ,  2G059CC12 ,  2G059EE13 ,  2G059FF01 ,  2G059MM03