研課題
J-GLOBAL ID:200904019199987315  研究課題コード:6000001015 更新日:2007年04月18日

マイクロ接合部の欠陥評価技術の研究

実施期間:2005 - 2007
研究分野 (1件): 電子・電気材料工学
プロジェクト名: 最先端技術調査研究
プロジェクト代表研究者 (1件):
  • 佐山 利彦
研究制度: -

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