研課題
J-GLOBAL ID:200904046613125824  研究課題コード:1701 更新日:2013年10月07日

反応現象のX線ピンポイント構造計測

実施期間:2004 - 2009
実施機関 (1件):
実施研究者(所属機関) (1件):
研究概要:
ナノ物質・材料の研究・開発分野では、デバイスの動作状態でのその場観察を含め、様々な環境下において、光・電場・磁場等の外場に対する微小材料や薄膜材料の動的応答の構造評価技術の重要性が高まっています。本研究では、これらの評価技術を実現するため、第三世代放射光SPring-8を用い、極短時間(ps)、極小空間(nm)という極限環境での構造解析装置の開発を目指します。また、この「X線ピンポイント構造計測」技術を用いて、新原理・新現象を探索し、その有用性を実証します。
研究制度: 戦略的創造研究推進事業(チーム型研究)
研究所管省庁:
文部科学省
研究所管機関:
独立行政法人科学技術振興機構
研究予算: 0(千円)
上位研究課題 (1件):

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