研課題
J-GLOBAL ID:200904082263854565  研究課題コード:9800005701 更新日:1996年12月18日

論理システムの機能的テスト生成法

Functional test generation approach for logical system
実施期間:1987 - 1995
実施機関 (1件):
実施研究者(所属機関) (1件):
研究概要:
VLSIや多くのICで構成された論理システムのための機能的試験生成法を研究する。論理システムを機能的なモジュールでモデル化し,試験経路を活性化するようオペレーションモードを定めることにより,試験系列の生成を簡単化する。論理関数をユネイト関数の組合せに分解し,これに基いて試験系列の長さを短縮する。ベンチマークテストにより提案手法の有効性を検証した
キーワード (6件):
論理回路 ,  超LSI ,  集積回路 ,  モジュール ,  モデリング ,  論理関数
研究制度: 経常研究
研究予算: 1995年度: 0(千円)

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