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J-GLOBAL ID：200909009362997253   JST資料番号 (フル)：H0777BAJ   JST資料番号：H0777B

Microscopy, Microanalysis, Microstructures

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H0777B
ISSN (1件)： 1154-2799
CODEN (1件)： MMMIEY
資料内容種別：一般記事, 冊子体, 隔月(年6回)
刊行頻度： 隔月(年6回)
発行国：フランス(FRA)
本文使用言語 (1件)： 英語(EN)
JST資料分類 (2件)： 電磁気学、光学 (BD) ,  物質の構造、放射線物理 (BK)
編集団体名 (1件)： Centre National de la Recherche Scientifique
出版団体名： Societe Francaise des Microscopies
出版地：Paris
会議 (6件)：
  • International Workshop on Electron Energy Loss Spectroscopy and Imaging, 2nd, Leukerbad, 19940724 - 19940728
  • CFMCP Meeting of Scanning Probe Methods and Near Field Microscopies, 2nd, Aix en Provence, 19940704 - 19940706
  • Workshop on Microstructural and Microanalytical Techniques in Materials Science, Lecce, 19950223 - 19950224
  • International Field Emission Symposium, 40th, Nagoya, 19930801 - 19930805
  • French-Japanese Seminar on in situ Electron Microscopy, Nagoya, 19921109 - 19921112
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前資料名 (1件)：
  • Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electroniques
後継資料名 (1件)：
  • European Physical Journal. Applied Physics
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