資料
J-GLOBAL ID：200909027431793795
JST資料番号 (フル)：W1320AAC
JST資料番号：W1320A
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
JST資料番号：
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W1320A
ISSN (1件)：
1530-4388
CODEN (1件)：
ITDMA2
資料内容種別：一般記事, メタデータのみ, 年4回
刊行頻度： 年4回
発行国：アメリカ合衆国(USA)
本文使用言語 (1件)：
英語(EN)
JST資料分類 (1件)：
電子工学 (NC)
出版団体名：
Institute of Electrical and Electronics Engineers
, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Electron Devices Society
, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Reliability Society
出版地：New York
会議 (2件)：
- IEEE International Reliability Physics Symposium, Quebec, 20090426 - 20090430
- IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 11th, Hsinchu, 20040705 - 20040708
JST所蔵 (0件)
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