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J-GLOBAL ID：200909040877788147   JST資料番号 (フル)：E0318EAM   JST資料番号：E0318E

Micron

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E0318E
ISSN (1件)： 0968-4328
資料内容種別：一般記事, メタデータのみ, 年12回
刊行頻度： 年12回
発行国：オランダ(NLD)
本文使用言語 (1件)： 英語(EN)
JST資料分類 (2件)： 生物科学一般 (EA) ,  金属学 (WB)
出版団体名： Elsevier
出版地：*
会議 (3件)：
  • Workshop on Microanalytical Characterisation of Semi-conducting Materials and Devices, Lecce, 19981104 - 19981111
  • International Workshop on Towards Atomic Resolution Analysis, Port Ludlow, Wash., 19980906 - 19980911
  • Annual Meeting of the Microscopical Society of Canada, 24th, Edmonton, 19970604 - 19970607
前資料名 (2件)：
  • Micron and Microscopica Acta
  • Electron Microscopy Reviews
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