資料
J-GLOBAL ID：200909068920732241
JST資料番号 (フル)：C0406BAJ
JST資料番号：C0406B
Microelectronic Engineering
JST資料番号：
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C0406B
ISSN (1件)：
0167-9317
CODEN (1件)：
MIENEF
資料内容種別：一般記事, メタデータのみ, 年18回
刊行頻度： 年18回
発行国：オランダ(NLD)
本文使用言語 (1件)：
英語(EN)
JST資料分類 (1件)：
電子工学 (NC)
出版団体名：
Elsevier
出版地：Amsterdam
会議 (59件)：
- European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits, 2nd, Duisburg, 19891001 - 19891004
- Micro and Nano Engineering Conference, 41st, Hague, 20150921 - 20150924
- MNE 2015, Hague, 20150921 - 20150924
- International Conference Micro& Nano, 6th, Glyfada, 20151004 - 20151007
- Micro and Nano Engineering Conference, 41st, Hague, 20150921 - 20150924
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