資料
J-GLOBAL ID：200909076856896742
JST資料番号 (フル)：K19870592L
JST資料番号：K19870592
In Situ Experiments with High Voltage Electron Microscopes
JST資料番号：
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K19870592
ISBN (1件)：
4-9900065-1-8
資料内容種別：会議録, 冊子体, その他
刊行頻度： その他
発行国：日本(JPN)
本文使用言語 (1件)：
英語(EN)
出版団体名：
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
出版地：吹田
会議 (1件)：
- International Symposium on Behavior of Lattice Imperfactions in Materials-In Situ Experiments with HVEM, Suita, 19851118 - 19851120
JST所蔵 (0件)：
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