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J-GLOBAL ID：200909089147818554   JST資料番号 (フル)：S0273AAA   JST資料番号：S0273A

Technical Report of ISSP. Series A (Institute for Solid State Physics, University of Tokyo)

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S0273A
ISSN (1件)： 0082-4798
CODEN (1件)： TISSB
資料内容種別：一般記事, 冊子体, 不定期
刊行頻度： 不定期
発行国：日本(JPN)
本文使用言語 (1件)： 英語(EN)
JST資料分類 (3件)： 電子物性、磁性、光物性 (BM) ,  物質の構造、放射線物理 (BK) ,  機械的性質と熱物性 (BL)
出版団体名： 東京大学物性研究所
出版地：柏
会議 (6件)：
  • Structure Dependent Ultrafast Relaxation Time of Photo-Excited Carriers in SiC
  • Study on Sublattice Reversal in a GaAs/Ge/GaAs(001) Crystal by X-ray Standing Waves
  • Crystal Orientation of Silver Films on Silicon Surfaces Revealed by Surface X-ray Diffraction
  • X-ray Diffraction Study of the Phase Transition of Si(111) Rute3 x Rute3-Ag Surface
  • A Phase Retrieval Method for Noncrystalline Layers on Crystal Surfaces
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