資料
J-GLOBAL ID：200909093514686632
JST資料番号 (フル)：K19920029U
JST資料番号：K19920029
Materials Reliability Issues in Microelectronics
JST資料番号：
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K19920029
ISBN (1件)：
1-55899-119-0
シリーズ・タイトル (1件)：
- Materials Research Society Symposia Proceedings 225
資料内容種別：会議録, 冊子体, その他
刊行頻度： その他
発行国：アメリカ合衆国(USA)
本文使用言語 (1件)：
英語(EN)
出版団体名：
Materials Research Society
出版地：Pittsburgh, Pa.
会議 (1件)：
- Symposium on Materials Reliability Issues in Microelectronics, 1st, Anaheim, Calif., 19910430 - 19910503
JST所蔵 (0件)：
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