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J-GLOBAL ID：201002000029457363   整理番号：78A0171173

誘電薄膜の屈折率と膜厚を分光測光法で決定する方法の妥当性

Validity of spectrophotometric determination of refractive indices for thin dielectric films and their thicknesses.

著者 (3件)： El-SHAZLY A F ,  El-DESSOUKY T A ,  El-KHOLY H K
資料名： Acta Phys Acad Sci Hung  (Acta Physica Academiae Scientiarum Hungaricae)
巻： 42  号： 4  ページ： 339-342  発行年： 1977年 
JST資料番号： A0317A  CODEN： APAHA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ハンガリー (HUN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 通常用いられている分光測光法の妥当性を調べるため,透過での暗...

シソーラス用語： 誘電体薄膜 ,...

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タイトルに関連する用語 (5件)： 誘電薄膜 ,  屈折率 ,  膜厚 ,  分光測光法 ,  妥当性