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J-GLOBAL ID：201002000373258116   整理番号：78A0337306

誘電体緩和電流測定による非晶質半導体の研究

Investigation of amorphous semiconductors by dielectric relaxation current measurements.
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著者 (1件)：
MUELLER P

MUELLER P について


資料名：
Int Conf Amorphous Semicond  (Proceedings International Conference on Amorphous Semiconductors 760920)

Int Conf Amorphous Semicond について


ページ： 199-214  発行年： 1977年 
JST資料番号： K19760453  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 文献レビュー  発行国： ハンガリー (HUN)  言語： 英語 (EN)
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非晶質半導体中の誘電体緩和電流を測定するための種々の方法を概...
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誘電緩和

誘電緩和 について

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誘電体

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緩和

緩和 について

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電流測定

電流測定 について

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非晶質半導体

非晶質半導体 について

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研究

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