薄いフォイルに引張りを与えることにより形成されるNi<sub>3</sub>Ga中の積層欠陥の電子顕微鏡によるその場観察

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J-GLOBAL ID：201002000388629927 整理番号：77A0327799

薄いフォイルに引張りを与えることにより形成されるNi₃Ga中の積層欠陥の電子顕微鏡によるその場観察

In-situ observation of formation of stacking faults in Ni₃Ga by stretching thin foils in an electron microscope.

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資料名：
巻： 16 号： 6 ページ： 919-923 発行年： 1977年
JST資料番号： G0520A CODEN： JJAPA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

電子顕微鏡での引張り試験時のNi₃Ga...

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