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J-GLOBAL ID：201002000803686818   整理番号：79A0292895

ComptonプロフィルのFourier変換で得られる固体状態の情報

Solid state information from the Fourier transform of compton profiles.
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著者 (1件)：
SCHUELKE W

SCHUELKE W について


資料名：
Int Conf X Ray XUV Spectrosc  (Proceedings International Conference on X-Ray and XUV Spectroscopy 780828)

Int Conf X Ray XUV Spectrosc について


ページ： 332-336  発行年： 1978年 
JST資料番号： K19780173  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)
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ある結晶方位で測定したComptonプロフィル(DCP)のF...
シソーラス用語：
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Compton散乱

Compton散乱 について

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プロフィル

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Fourier変換

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固体状態

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