文献
J-GLOBAL ID：201002001534647491 整理番号：79A0102218
薄膜の表面分析 展望 I
Oberflaechenanalyse an Duennen Schichten - Eine UEbersicht. 1.
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=79A0102218©=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=79A0102218&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0348A") }}
著者 (1件)：
POLASCHEGG H D
POLASCHEGG H D について
名寄せID(JGPN) 201550000286617703 ですべてを検索
「POLASCHEGG H D」ですべてを検索
資料名：
Vak Tech (Vakuum-Technik)
Vak Tech について
JST資料番号 E0348A ですべてを検索
ISSN,ISBN,CODENですべてを検索
資料情報を見る
巻：
27
号：
8
ページ：
238-245
発行年：
1978年
JST資料番号：
E0348A
ISSN：
0042-2266
CODEN：
VAKTA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
文献レビュー
発行国：
ドイツ (DEU)
言語：
ドイツ語 (DE)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
表面分析法は薄膜の開発製造に急速に重要度を増加。従って薄膜製...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
薄膜
薄膜 について
「薄膜」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,...
続きはJDreamIII（有料）にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=79A0102218&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0348A") }}
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
薄膜
薄膜 について
「薄膜」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
表面分析
表面分析 について
「表面分析」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
展望
展望 について
「展望」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM
