ランダムアクセス記憶における固定故障検査に対する最適アルゴリズム

KNAIZUK J Jr; HARTMANN C R P

文献

J-GLOBAL ID：201002002091653317 整理番号：78A0039647

ランダムアクセス記憶における固定故障検査に対する最適アルゴリズム

An optimal algorithm for testing stuck-at faults in random access memories.

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資料名：
巻： 26 号： 11 ページ： 1141-1144 発行年： 1977年
JST資料番号： C0233A ISSN： 0018-9340 CODEN： ITCOB 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

回路の初期テストでは,多重誤り検査可能なアルゴリズムが必要に...

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