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J-GLOBAL ID:201002002102735450 整理番号:78A0064172
混成集積回路の信頼性問題を解明するために利用される故障解析技術
Failure analysis techniques applied in resolving hybrid microcircuit reliability problems.
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著者 (1件):
EBEL G H
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名寄せID(JGPN) 201550000028858135 ですべてを検索
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資料名:
Annu Proc Reliab Phys Symp (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
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巻:
15th
ページ:
70-81
発行年:
1977年
JST資料番号:
A0631A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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