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J-GLOBAL ID：201002002410319077   整理番号：77A0355477

小さい転位ループからの電子顕微鏡による像の明略 II 放射線を照射された金属の欠陥の解析への理論的予測の応用

Electron microscope image contrast from small dislocation loops. II. Application of theoretical predictions to defect analysis in irradiated metals.

著者 (3件)： EYRE B L ,  MAHER D M ,  PERRIN R C
資料名： J Phys F  (Journal of Physics. F. Metal Physics)
巻： 7  号： 8  ページ： 1371-1382  発行年： 1977年 
JST資料番号： E0714A  ISSN： 0305-4608  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： I報の理論を層構造のループの場合へ応用した。像の対称性は,g...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...

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タイトルに関連する用語 (9件)： 転位ループ ,  電子顕微鏡 ,  像 ,  放射線 ,  欠陥 ,  解析 ,  理論 ,  予測 ,  応用