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J-GLOBAL ID:201002007342830347 整理番号:79A0061851
16kダイナミックRAMのテスト
When testing 16-k dynamic RAMs.
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著者 (1件):
OWEN R W
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名寄せID(JGPN) 201550000086583294 ですべてを検索
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資料名:
Electron Des (Electronic Design)
Electron Des について
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巻:
25
号:
19
ページ:
86-89
発行年:
1977年
JST資料番号:
C0397A
ISSN:
0013-4872
CODEN:
ELODA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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記憶容量16k語のダイナミック方式RAMの機能試験を行なう場...
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