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J-GLOBAL ID：201002007633201452   整理番号：77A0288539

電子後方散乱図形を用いた正確なミクロ結晶学

Accurate microcrystallography using electron back-scattering patterns.
著者 (2件)：
VENABLES J A

VENABLES J A について

, 
BIN-JAYA R

BIN-JAYA R について


資料名：
Philos Mag  (Philosophical Magazine)

Philos Mag について


巻： 35  号： 5  ページ： 1317-1332  発行年： 1977年 
JST資料番号： D0316A  ISSN： 0031-8086  CODEN： PHMAA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
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微結晶の方位を正確に決定する方法について述べた。走査電顕内の...
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走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について

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電子後方散乱

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図形

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結晶学

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