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J-GLOBAL ID：201002011469277873   整理番号：78A0272636

EXAFS測定による局所構造解析

著者 (3件)： 細谷資明 (東大物性研) ,  川村隆明 (山梨大教育) ,  深町共栄 (埼玉工大)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 47  号： 8  ページ： 708-722  発行年： 1978年 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： EXAFS(X線吸収連続微細構造)曲線へFourier変換法...

シソーラス用語： X線スペクトル ,...

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引用文献 (73件)：

• 1) L. V. Azaroff: Rev. mod. Phys. 35 (1963) 1012.
• 2) T. Shiraiwa, T. Ishimura and M. Sawada: J. Phys Soc. Japan 13 (1958) 847.
• 3) L. V. Azaroff and D. M. Pease: X-ray Spec-troscopy, ed. L. V. Azaroff (McGraw-Hill, New York, 1974) Chapter 6.
• 4) 渡辺 剛:応用物理, 44 (1975) 116.
• 5) 米沢富美子:固体物理, 12 (1977) 563.

タイトルに関連する用語 (3件)： EXAFS ,  局所構造 ,  解析