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J-GLOBAL ID：201002013511062877   整理番号：80A0019780

MOS LSI回路の物理的,論理的故障モデルとその可試験性

Physical versus logical fault models in MOS LSI circuits, impact on their testability.
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著者 (3件)：
GALIAY J

GALIAY J について

(Lab. Automatique Analyse Systemes Centre National Recherche Scientifique, France)

Lab. Automatique Analyse Systemes Centre National Recherche Scientifique, France について

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CROUZET Y

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(Lab. Automatique Analyse Systemes Centre National Recherche Scientifique, France)

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VERGNIAULT M

VERGNIAULT M について

(Soc. Etude et la Fabrication de Circuits Integres Speciaux, France)

Soc. Etude et la Fabrication de Circuits Integres Speciaux, France について


資料名：
Dig Pap Annu Int Symp Fault Tolerant Comput  (Digest of Papers. International Symposium on Fault-Tolerant Computing)

Dig Pap Annu Int Symp Fault Tolerant Comput について


巻： 9th  ページ： 195-202  発行年： 1979年 
JST資料番号： H0013B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
シソーラス用語：
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MOS集積回路

MOS集積回路 について

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MOS

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LSI回路

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物理

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故障モデル

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可試験性

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