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J-GLOBAL ID:201002014885873069 整理番号:79A0242367
残留応力のX線解析による測定と,その携帯用装置の進歩
X-ray analysis and advances in portable field instrumentation.
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著者 (1件):
RUUD C O
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名寄せID(JGPN) 201550000268035632 ですべてを検索
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資料名:
J Met (Journal of Metals)
J Met について
JST資料番号 C0321A ですべてを検索
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巻:
31
号:
6
ページ:
10-15
発行年:
1979年
JST資料番号:
C0321A
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
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残留応力測定の非破壊検査法で,信頼できるのはX線解析法だけで...
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