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J-GLOBAL ID：201002016193959810   整理番号：78A0010377

逐次計数抜取 検査誤りの影響と補償

Sequential attributes sampling: Inspection error effects and compensation.

著者 (2件)： KULAPATRAPA S ,  CASE K E
資料名： Comput Ind Eng  (Computers & Industrial Engineering)
巻： 1  号： 4  ページ： 235-253  発行年： 1977年 
JST資料番号： D0502B  ISSN： 0360-8352  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 逐次計数抜取はロットごとの多重受入れ計数の論理的な限界を示す...

シソーラス用語： ロット ,...

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タイトルに関連する用語 (5件)： 計数 ,  抜取 ,  検査 ,  誤り ,  補償