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J-GLOBAL ID：201002016443605440   整理番号：78A0036846

高速ディジタルテスト装置用メモリ

Local memory for a high-speed digital test system.
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著者 (1件)：
BUSH T S

BUSH T S について


資料名：
IEEE Trans Instrum Meas  (IRE Transactions on Instrumentation)

IEEE Trans Instrum Meas について


巻： 26  号： 3  ページ： 217-220  発行年： 1977年 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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RAMまたはSRメモリをローカルメモリとして選択すると高速デ...
シソーラス用語：
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回路試験器

回路試験器 について

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テスト装置

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