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J-GLOBAL ID：201002018512638618   整理番号：78A0217897

セラミック表面の傷の検出への高周波技術の応用

A high frequency technique for surface flaw detection in ceramics.
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著者 (2件)：
KHURI-YAKUB B T

KHURI-YAKUB B T について

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KINO G S

KINO G S について


資料名：
Proc Ultrason Symp  (Proceedings. IEEE Ultrasonics Symposium)

Proc Ultrason Symp について


巻： 1977  ページ： 53-55  発行年： 1977年 
JST資料番号： A0437C  ISSN： 1051-0117  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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非圧電材料において表面波を励振させるために新しいトランスジュ...
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破面検査

破面検査 について

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セラミック

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傷

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高周波

高周波 について

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応用

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