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J-GLOBAL ID：201002022642745863   整理番号：79A0283529

¹⁶Oイオン入射によるAlのK X線生成 標的の厚みがX線収量に及ぼす効果

Al K X-ray production for incident ¹⁶O ions: The influence of target thickness effects on observed target X-ray yields.

著者 (4件)： GRAY T J ,  RICHARD P ,  GEALY G ,  NEWCOMB J
資料名： Phys Rev A  (Physical Review. A)
巻： 19  号： 4  ページ： 1424-1432  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0323C  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Al標的の厚みは1〜30μg/cm²で...

シソーラス用語： アルミニウム ,...

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タイトルに関連する用語 (7件)： イオン ,  Al ,  X線生成 ,  標的 ,  厚み ,  X線 ,  収量