文献
J-GLOBAL ID：201002023948153940   整理番号：78A0060437

LSIテスト可能性のための論理設計構造

A logic design structure for LSI testability.
著者 (2件)：
EICHELBERGER E B

EICHELBERGER E B について

, 
WILLIAMS T W

WILLIAMS T W について


資料名：
Proc Des Autom Conf  (Proceedings of the Design Automation Workshop)

Proc Des Autom Conf について


巻： 14th  ページ： 462-468  発行年： 1977年 
JST資料番号： D0553A  ISSN： 0738-100X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
数百の論理ゲートをシリコンの単一チップ上にとう載しうる能力は...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
LSI

LSI について

,...
   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=78A0060437&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0553A") }}
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
LSIテスト

LSIテスト について

, 
可能性

可能性 について

, 
論理設計

論理設計 について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM