文献

J-GLOBAL ID：201002027506819413   整理番号：77A0242169

超高圧電子顕微鏡(HVEM)の評価

An assessment of high voltage electron microscopy (HVEM).

著者 (2件)： LORETTO M H ,  SMALLMAN R E
資料名： Mater Sci Eng  (Materials Science and Engineering)
巻： 28  号： 1  ページ： 1-32  発行年： 1977年 
JST資料番号： D0589A  ISSN： 0025-5416  CODEN： MSCEA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 通常の透過電顕(CTEM)の延長としての超高圧電顕(HVEM...

シソーラス用語： レビュー ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=77A0242169&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0589A") }}

タイトルに関連する用語 (3件)： 高圧電子顕微鏡 ,  HVEM ,  評価