文献
J-GLOBAL ID：201002027834926685
整理番号：79A0027195
X線けい光法によるガラス,セラミックおよびそれらの原料中の微量金属の分析
UEveg, finomker<span style=text-decoration:overline>a ́</span>mia <span style=text-decoration:overline>e ́</span>s alapanyagaik f<span style=text-decoration:overline>e ́</span>mszennyezoinek elemz<span style=text-decoration:overline>e ́</span>se roentgen-fluoreszcenci<span style=text-decoration:overline>a ́</span>s m<span style=text-decoration:overline>o ́</span>dszerrel.
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