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J-GLOBAL ID：201002030116836024   整理番号：77A0164148

シリコンの欠陥の研究用のEPRスペクトロメータ

EPR techniques for studying defects in silicon.
著者 (1件)：
BROWER K L

BROWER K L について


資料名：
Rev Sci Instrum  (Review of Scientific Instruments)

Rev Sci Instrum について


巻： 48  号： 2  ページ： 135-141  発行年： 1977年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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放射線によって作られたシリコン中の欠陥はスピン格子緩時間が長...
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EPRスペクトロメータ

EPRスペクトロメータ について

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