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J-GLOBAL ID:201002033653445499 整理番号:79A0334907
MNOSLSIメモリのリテンション試験
Retention testing of MNOS LSI memories.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=79A0334907©=1") }}
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著者 (2件):
JEPPSON K O
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SVENSSON C M
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資料名:
IEEE J Solid-State Circuit (IEEE Journal of Solid-State Circuits)
IEEE J Solid-State Circuit について
JST資料番号 B0761A ですべてを検索
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巻:
14
号:
4
ページ:
723-729
発行年:
1979年
JST資料番号:
B0761A
ISSN:
0018-9200
CODEN:
IJSCB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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