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J-GLOBAL ID：201002036326865521   整理番号：79A0269296

シンクロトロン放射による薄膜の構造および組成の測定

Depth profiling of structure and/or composition on thin films by synchrotron radiation.
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著者 (2件)：
EASTMAN D

EASTMAN D について

, 
TU K N

TU K N について


資料名：
IBM Tech Disclosure Bull  (IBM Technical Disclosure Bulletin)

IBM Tech Disclosure Bull について


巻： 22  号： 2  ページ： 848  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0292B  ISSN： 0018-8689  CODEN： IBMTA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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強度の大きい平行連続X線ビームが薄膜試料に入射角δで入射する...
シソーラス用語：
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薄膜

薄膜 について

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シンクロトロン放射

シンクロトロン放射 について

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薄膜

薄膜 について

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組成

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