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J-GLOBAL ID：201002037635302171   整理番号：77A0254172

2結晶スペクトロメータによるPbSエピタキシャル薄膜の構造完全度のX線研究

Рентгеновское исследование структурного совершенства эпитаксиальных пленок PbS методом двухкристального спектрометра.

著者 (4件)： ПАЛАТНИК Л С ,  ФУКС М Я ,  АЛАВЕРДОВА О Г ,  ШПАКОВСКАЯ Л П
資料名： Kristallografiya  (Kristallografiya)
巻： 22  号： 3  ページ： 608-614  発行年： 1977年 
JST資料番号： R0058A  ISSN： 0023-4761  CODEN： KRISA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語： ロシア語 (RU)

抄録/ポイント： 2結晶分光とラング法によって,NaClへき開面への真空蒸着で...

シソーラス用語： モザイク構造 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： 結晶スペクトロメータ ,  PbS ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  X線 ,  研究