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J-GLOBAL ID：201002038675419337   整理番号：77A0106351

イオン注入を用いた集積回路抵抗の雑音

Noise in ion implanted integrated circuit resistors.

著者 (5件)： HSIEH K C ,  McNAMARA D A ,  CHENETTE E R ,  Van der ZIEL A ,  WATTERS R L
資料名： Solid-State Electron  (Solid-State Electronics)
巻： 20  号： 2  ページ： 164-165  発行年： 1977年 
JST資料番号： H0225A  ISSN： 0038-1101  CODEN： SSELA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： p形イオン注入による集積回路抵抗における電流雑音を解析し,ア...

シソーラス用語： 集積回路 ,...

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タイトルに関連する用語 (3件)： イオン注入 ,  集積回路 ,  雑音