文献
J-GLOBAL ID：201002038772543190 整理番号：77A0193618
推移個数による論理回路検査について
A note on testing logic circuits by transition counting.
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REDDY S M
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資料名：
IEEE Trans Comput (IRE Transactions on Electronics Computers)
IEEE Trans Comput について
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巻：
26
号：
3
ページ：
313-314
発行年：
1977年
JST資料番号：
C0233A
ISSN：
0018-9340
CODEN：
ITCOB
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
短報
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
言語：
英語 (EN)
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