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J-GLOBAL ID：201002039688398734   整理番号：77A0327797

反射高エネルギー電子回折(RHEED)の新しい技術 表面構造研究への応用

Some new techniques in reflection high energy electron diffraction (RHEED). Application to surface structure studies.

著者 (1件)： INO S
資料名： Jpn J Appl Phys  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 16  号： 6  ページ： 891-908  発行年： 1977年 
JST資料番号： G0520A  CODEN： JJAPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 鋭焦点電子ビーム電子銃を備え,超高真空で動作される新しいRH...

シソーラス用語： 高速電子回折 ,...

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引用文献 (12件)：

• 1) E. J. Scheibner, L. H. Germer and C. D. Hartman : Rev. sci. Instrum. 31 (1960) 112.
• 2) L. H. Germer and C. H. Hartman: Rev. sci. Instrum. 31 (1960) 784.
• 3) J. J. Lander, J. Morrison and E. Unterwald: Rev. sci. Instrum. 33 (1962) 782.
• 4) S. Miyake: Sci. Pap. Inst. Phys. Chem. Res. Tokyo 31 (1937) 161;S. Miyake: Sci. Pap. Inst. Phys. Chem. Res. Tokyo 34 (1938) 565.
• 5) R. Uyeda: Proc. Phys. -Math. Soc. Japan 22 (1940) 1023;R. Uyeda: Proc. Phys. -Math. Soc. Japan 24 (1942) 809.

タイトルに関連する用語 (5件)： 反射高エネルギー電子回折 ,  RHEED ,  表面構造 ,  研究 ,  応用