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J-GLOBAL ID：201002040729077954   整理番号：80A0141200

超小形回路部品の温度試験

Testing microelectronic components at temperature.
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著者 (1件)：
KUFIS J C

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(Thermonics Inc., California)

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資料名：
Proc Tech Program Int Microelectron Conf  (Proceedings of the Technical Program. International Microelectronics Conference)

Proc Tech Program Int Microelectron Conf について


巻： 1979  ページ： 153-156  発行年： 1979年 
JST資料番号： H0520B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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部品の温度試験の手法を概観する。サーミオニクスT-2050精...
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超小形回路

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試験

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