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J-GLOBAL ID：201002041040455923   整理番号：78A0314112

三値論理代数を用いた組合せ論理回路の故障試験生成

Fault test generation for combinational logic networks using ternary switching algebra.

著者 (2件)： BHUJADE M R ,  ISAAC J R
資料名： Proc Midwest Symp Circuit Syst  (Conference Record. Midwest Symposium on Circuit Theory)
巻： 20th  号： Pt 2  ページ： 571-575  発行年： 1977年 
JST資料番号： D0551A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 従来の同種論理においては,特定の故障に着目した試験生成を行い...

シソーラス用語： 組合せ回路 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： 三値 ,  論理代数 ,  組合せ ,  論理回路 ,  故障 ,  試験