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J-GLOBAL ID：201002042673097089   整理番号：80A0175190

多結晶Ag-Al二層薄膜の拡散による合金化のKiessig X線干渉法による研究

Diffusional alloying in polycrystalline Ag-Al thin film couples studied by means of kiessig X-ray interference.

著者 (3件)： WAGENDRISTEL A (Technical Univ., Vienna) ,  BANGERT H (Technical Univ., Vienna) ,  TONSERN W (Technical Univ., Vienna)
資料名： Surf Sci  (Surface Science)
巻： 86  ページ： 68-74  発行年： 1979年 
JST資料番号： C0129B  ISSN： 0039-6028  CODEN： SUSCA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 400ÅのAg膜に200ÅのAlを蒸着し,X線光学深さプロフ...

シソーラス用語： 銀 ,...

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タイトルに関連する用語 (9件)： 多結晶 ,  Ag ,  Al ,  薄膜 ,  拡散 ,  合金化 ,  X線 ,  干渉法 ,  研究