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J-GLOBAL ID：201002043579447595   整理番号：77A0131851

パワーショットキーバリアダイオードの熱疲労寿命試験における劣化モニタリング

Degradation monitoring in thermal fatigue life test of power Schottky barrier diode.
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YU C C

YU C C について


資料名：
IBM Tech Disclosure Bull  (IBM Technical Disclosure Bulletin)

IBM Tech Disclosure Bull について


巻： 19  号： 8  ページ： 3122  発行年： 1977年 
JST資料番号： E0292B  ISSN： 0018-8689  CODEN： IBMTA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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ショットキーダイオードの加熱加電流サイクル寿命試験を行うとき...
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Schottky障壁ダイオード

Schottky障壁ダイオード について

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