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J-GLOBAL ID：201002044726014230   整理番号：79A0309354

高圧電子顕微鏡内での低温におけるbcc結晶のその場変形転位機構とひずみ速度方程式

In situ deformation of b.c.c. crystals at low temperatures in a high-voltage electron microscope. Dislocation mechanisms and strain-rate equation.

著者 (3件)： LOUCHET F ,  KUBIN L P ,  VESELY D
資料名： Philos Mag A  (Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties)
巻： 39  号： 4  ページ： 433-454  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0753B  ISSN： 0031-8086  CODEN： PHMAA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高圧電子顕微鏡内で,70〜400Kの温度範囲で,Nb,Mo,...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： 高圧電子顕微鏡 ,  低温 ,  結晶 ,  転位 ,  ひずみ ,  速度方程式